應用光電直讀光譜分析方法測定試樣中元素含量時，所得結果與真實含量通常不一致，總是存在著一定的誤差和偏差。這里所講的誤差是指每次測量的數(shù)值與真值之間的差值，而偏差是指每次測得的數(shù)值與多次測量平均值之差。根據(jù)誤差的性質及其產(chǎn)生原因，誤差主要分以下幾種：系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過失誤差。 系統(tǒng)誤差是指在一定試驗條件下由某個或某些因素按照某一確定的規(guī)律起作用而形成誤差，它決定了測試結果的準確度，系統(tǒng)誤差的大小和符號在同一試驗中是恒定的，改變試驗條件時按照確定的規(guī)律變化。重復測定不能發(fā)現(xiàn)和減少系統(tǒng)差，只有改變試驗條件才能發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤差。測定結果與真實值偏離的程度越小，測定結果越正確，系統(tǒng)誤差就越小，一旦發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤差，一定要找出原因，設法避免和校正。分析試樣和標準樣品性質的不同、基體元素和分析元素之外的元素的干擾以及工作環(huán)境的變化均可能導致系統(tǒng)誤差。 由于在測試過程中，一系列的有關因素微小的隨機波動而形成了具有相互抵償性的誤差，它決定了測定結果的精密度。在多次分析結果與真實含量比較，是向兩個不同方向偏離，這時的誤差稱偶然誤差。偶然誤差有時大，有時小，有時正，有時負，但正負出現(xiàn)的機率基本相等，并且服從高斯分布定律。 隨著測定次數(shù)的增加，正負誤差相互抵償，誤差平均值趨向于零。產(chǎn)生偶然誤差的原因很多，比如說樣品的成分不均勻、激發(fā)光源不穩(wěn)定等等，要完全清除偶然誤差是不可能的。但是通過誤差分析，找出產(chǎn)生大誤差的環(huán)節(jié)，采取措施，改進分析方法，縮小偶然誤差是可能的。 這種誤差也可以稱差錯，顯然與事實不相符的誤差，沒有一定的規(guī)律性，是由操作不細心、不正確所造成。不管造成過失誤差的具體原因如何，只要確知存在過失誤差，就將會在一組測定值數(shù)據(jù)中以異常值舍棄之。 總而言之，在光電直讀光譜分析過程中，從取樣開始到打印出分析數(shù)據(jù)，是由若干個操作環(huán)節(jié)組成的，每一環(huán)節(jié)都可能會產(chǎn)生一定的誤差。當無過失誤差時(亦即正常操作中)，光譜分析的總誤差主要是系統(tǒng)誤差和偶然誤差的總和，便決定了光電直讀光譜分析方法的正確度。分析正確度包含兩方面內(nèi)容：即正確性和再現(xiàn)性。正確性表示分析結果與真實含量的接近程度，系統(tǒng)誤差小，正確性高；再現(xiàn)性(精密度)表示多次分析結果的離散程度，當沒有系統(tǒng)誤差時或系統(tǒng)誤差比偶然誤差小得多時，精密度就等于正確度。直讀光譜儀的誤差分析
1、系統(tǒng)誤差
2、偶然誤差
3、過失誤差
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